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期刊论文
磁参数对六角铁氧体RAM温度稳定性影响
电子科技大学学报,2000,2(1):61-64,-0001,():
从磁参数(饱和磁化强度,磁晶各向异性场)温度稳定性出发,对六角铁氧体RAM的温度稳定性进行了讨论;通过对M、W型六角铁氧体在温度t=18~100℃,频率。f=8~12GHz时吸收率R(R~f)的温度稳定性和材料起始磁导率“随温度的变化曲线(μ~t)的测试,得到单轴六角铁氧体材料R~f的温度稳定性优于平面六角铁氧体材料,并且和材料的μ~t变化规律吻合较好的结果。
【免责声明】以下全部内容由[邓龙江]上传于[2009年05月18日 15时34分20秒],版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点,与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立,不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考,并请自行承担全部责任。
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