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期刊论文
浮栅ROM器件的辐射效应实验研究
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浮栅ROM器件的质子和中子辐射效应实验结果表明,其31.9MeV质子和14MeV中子的辐射效应不是单粒子效应,而是一种总剂量效应。浮栅ROM器件的60Coγ辐照实验验证了这一点。器件出现错误有个注量或剂量阈值。动态监测和静态加电的器件都出现数据错误,且不能用编程器重新写入数据。然而不加电的器件在更高注量的质子或中子或更高剂量的γ辐照下未出现错误。器件刚开始出错时,错误数及错误地址都是不确定的。
【免责声明】以下全部内容由[贺朝会]上传于[2005年03月31日 18时02分43秒],版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点,与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立,不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考,并请自行承担全部责任。
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