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孙义和
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期刊论文
一种可配置的测试访问结构及其优化算法
，-0001，（）：
摘要/描述
本文介绍了一种用于系统芯片测试的测试访问结构。该结构可以在测试时间和功耗约束的情况下利用整数线性规划算法自动调整结构参数。实验结构表明这种结构可以非常灵活的生成满足不同约束要求的测试访问结构。
【免责声明】以下全部内容由[孙义和]上传于[2005年03月29日 23时14分12秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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