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孙义和
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期刊论文
基于小信号模型的测试点选择算法1
，-0001，（）：
摘要/描述
本文介绍了一种用于数字VLSI扫描内建自测试（Built-In Self-Test）的测试点选择算法TEPSAUS（TEst-Point Selection Algorithm Using Small signal model）。在解决控制点选择的计算复杂度问题方面，TEPSAUS 在剔除难于确定观测性增强或减弱的重会聚点后，用小信号模型的方法构造递推算式，这样可测性度量方程（Cost Reduction Function）的计算复杂度降低了。从评测结果看，TEPSAUS 可以从ISCAS89电路和ITC99的b14电路中找到全局的优化测试点，并且CPU的计算时间控制在秒量级。
【免责声明】以下全部内容由[孙义和]上传于[2005年03月29日 23时14分24秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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