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期刊论文
电沉积法制备用于一维纳米材料电子输运性质测量的基底
电化学,2004,10(1):20~26,-0001,():
应用电沉积方法制备两种低粗糙度、具有导电/绝缘交接结构的测量基底—Au/CuO 和HOPG/CuO,并在带导电针尖的原子力显微测量(CT-AFM)平台上建立了简便的一维纳米材料轴向电子输运性质测量方法。在大气室温条件下,对组装在两种基底上的单束碳纳米管轴向电学性质进行了定性测量,结果表明,该碳纳米管呈现金属性。
【免责声明】以下全部内容由[向娟]上传于[2010年07月16日 19时00分21秒],版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点,与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立,不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考,并请自行承担全部责任。
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