Analysis of the modulation depth affected by the polarization orientation in polarization interference imaging spectrometers，成果详细信息-中国科技论文在线

张淳民

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期刊论文

Analysis of the modulation depth affected by the polarization orientation in polarization interference imaging spectrometers

张淳民， Chunmin Zhang a ， b ， * ， Baochang Zhao b ， Bin Xiangli b ， Xinwei Zha c

Optics Communications 227(2003)221-225，-0001，（）：

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摘要/描述

The influence of the orientations of both polarizer and analyzer on modulation depth of spatially distributed interferograms for static polarization interference imaging spectrometer (SPIIS) is analyzed. A generally, theoretical relationship to determine the modulation depth of a SPIIS is derived. The special cases of maximum modulation depth (V=1) and the minimum modulation depth (V=0) are examined. Our results will provide a theoretical and practical guide for studying, developing and engineering polarization interference imaging spectrometers.

关键词: Polarization interference imaging spectrometer ， Modulation depth ， Polarization orientation

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