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左剑恶
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期刊论文
温度对X80管线钢钝化膜电化学性能的影响
中国腐蚀与防护学报，2009，29（1）：40～43，-0001，（）：
摘要/描述
应用电化学阻抗谱（EIS）技术研究了温度对X80管线钢在模拟土壤环境中所成钝化膜电化学性能的影响，同时应用点缺陷（PDM）模型分析了温度对钝化膜电化学性能的影响。结果表明：随着成膜温度的升高，钝化膜的稳态电流增大，膜内施主密度增加，膜电阻、传递电阻及离子在膜内的扩散系数D减小，其原因在于温度升高，钝化膜内的氧空位数量增加。
关键词:
X80管线钢 钝化膜 点缺陷模型
【免责声明】以下全部内容由[左剑恶]上传于[2011年04月18日 15时55分54秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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