问答列表－Direct analysis of silicon carbide by fluorination assisted electrothermal vaporization inductively coupled plasma atomic emission spectrometry using a slurry sampling technique

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成果题名：Direct analysis of silicon carbide by fluorination assisted electrothermal vaporization inductively coupled plasma atomic emission spectrometry using a slurry sampling technique

作者： Tianyou Peng,* Xiaohai Sheng,* Bin Hu* and Zucheng Jiang*

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