刘红侠,申远. SOI NMOS器件总剂量效应三维数值模拟[EB/OL]. 北京:中国科技论文在线 [2012-01-17]. http://www.paper.edu.cn/releasepaper/content/201201-585. 此文件来自 中国科技论文在线 请勿作用于商业用途!