杜发魁,郭筝. 基于总线复用技术的低成本闪存测试方法[EB/OL]. 北京:中国科技论文在线 [2020-12-03]. http://www.paper.edu.cn/releasepaper/content/202012-9. 此文件来自 中国科技论文在线 请勿作用于商业用途!