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成永红
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期刊论文
绝缘试样老化过程中超宽频带放电信号的分形分析*
自然科学进展，2002，12（8）：886～889，-0001，（）：
摘要/描述
在超宽频带局部放电研究中，局部放电特征峰的大小、位置和老化时间之间的变化规律，一直是研究工作中的一个重点。在应用小波分析技术提取超宽频带局部放电各频段信号的基础上，提出了采用分形分析技术对局部放电信号各频段信号进行分维数的计算，用分维数来量化分析超宽频带局部放电的频谱特性。应用该方法，对绝缘试样老化过程中特征峰的变亿规律进行了量化分析，发现了一些典型特征频段，为根据局部放电特性进行的电力设备绝缘诊断奠定了技术基础。
【免责声明】以下全部内容由[成永红]上传于[2006年09月14日 18时57分41秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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