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邓龙江
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期刊论文
磁参数对六角铁氧体RAM温度稳定性影响
电子科技大学学报，2000，2（1）：61-64，-0001，（）：
摘要/描述
从磁参数（饱和磁化强度，磁晶各向异性场）温度稳定性出发，对六角铁氧体RAM的温度稳定性进行了讨论；通过对M、W型六角铁氧体在温度t=18～100℃，频率。f=8～12GHz时吸收率R（R～f）的温度稳定性和材料起始磁导率“随温度的变化曲线（μ～t）的测试，得到单轴六角铁氧体材料R～f的温度稳定性优于平面六角铁氧体材料，并且和材料的μ～t变化规律吻合较好的结果。
【免责声明】以下全部内容由[邓龙江]上传于[2009年05月18日 15时34分20秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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