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郭彤
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期刊论文
垂直扫描白光干涉术用于微机电系统的尺寸表征
光学学报2007年4月第27卷第4期/ACTA OPTICA SINICA Vol.27, No.4, April,2007，-0001，（）：
随着微机电系统的发展，器件设计和加工过程中的表征成为一个主要问题。提出了将扫描白光干涉表面轮廓测量方法用于微结构和器件的几何特性检测上。测量系统采用了米劳显微干涉仪，利用压电陶瓷物镜纳米定位器实现垂直方向100μm范围内的精确扫描，并通过傅里叶变换算法获取条纹包络峰的位置，进而得到器件的整体集合尺寸信息，与相移干涉方法相比大大提高了测量范围。通过测量纳米台阶对该系统进行了精度标定，测量重复性在亚纳米量级。最后通过测量微谐振器和微压力传感器的几何尺寸说明了该方法的功能。
【免责声明】以下全部内容由[郭彤]上传于[2008年04月15日 15时18分39秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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