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期刊论文
用局域寿命控制技术改善功率快恢复二极管性能的仿真研究*
半导体学报,2003,24(5):520~527,-0001,():
针对局域低寿命区的参数对快恢复硅功率二极管性能的影响进行了系统的仿真研究,得到了全面系统的研究结果,其中包括局域低寿命区在二极管中的位置不同和局域低寿命区中复合中心能级在禁带中的位置不同对快恢复二极管的反向恢复时间(trr)、反向恢复软度因子(S)、正向压降(VF)、漏电流(IR)等各个单项性能的影响,以及对trr2S、trr2VF和trr2IR等各项性能综合折衷的影响。这些结果对高速功率器件寿命工程研究和器件制造工程都有重要的参考价值。
【免责声明】以下全部内容由[亢宝位]上传于[2009年06月22日 15时20分47秒],版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点,与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立,不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考,并请自行承担全部责任。
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