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李扬秋
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期刊论文
利用基因扫描分析TCR VB亚家族的CDR3长度方法检测T细胞克隆性
〔Ch inese J ou rna l of Imm unology, 1998; 14 (1): 48〕，-0001，（）：
分析了健康人、T-ALL外周血及T细胞株Mo lt-4和Jurkat中TCRVBT细胞的表达和克隆性。应用RT-PCR扩增TCR V B24个亚家族的CDR3, 并经基因扫描和序列分析确定T细胞克隆性。结果表明健康人表达除V B20外的多克隆T细胞；T 2ALL仅表达3～4个V B亚家族T细胞；部分呈寡克隆性；Mo lt-4和Jurkat分别表达V B2和V B8单克隆T细胞。T-ALL中存在克隆性生长T细胞。该方法是检测T细胞克隆性的敏感和精确的方法。
【免责声明】以下全部内容由[李扬秋 ]上传于[2005年03月04日 21时56分36秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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