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期刊论文
SoC中低峰值功耗的BIST调度算法*
电路与系统学报,2004,9(1):068~072,-0001,():
本文提出了一种系统芯片(SoC)中用于降低内建自测试(Built-in Self-test,BIST)峰值功耗的调度算法。首先本文提出了基于扫描BIST的精简功耗模型,在此模型的基础上。提出了通过调整扫描周期和扫描起动时间的办法来避免过高的SoC测试峰值功耗。实验结果表明,该算法可以有效地避免BIST并行执行可能带来的过高峰值功耗。
【免责声明】以下全部内容由[时龙兴]上传于[2009年01月21日 17时23分50秒],版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点,与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立,不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考,并请自行承担全部责任。
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