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孙义和

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期刊论文

本世纪初的SoC设计和测试方法学1

孙义和

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摘要/描述

本文主要介绍在本世纪初期微系统芯片在设计方法和测试方法方面所面临的竞争和挑战,可以在哪些方面展开课题的研究。

【免责声明】以下全部内容由[孙义和]上传于[2005年03月29日 23时12分41秒],版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点,与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立,不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考,并请自行承担全部责任。

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