微系统芯片的测试，非常关键的一个问题就是测试数据量的问题。通常微系统芯片都会包含多个IP内核，而这些内核每一个都需要大量的测试向量来进行测试。这样的测试数据量不仅会超出一般商用自动测试仪器所能提供的存储空间和通道数目，而且也会大大延长测试时间。而测试仪器的成本和测试时间是直接影响测试成本的关键因素之一。因此对测试数据进行压缩成为了一种直接而有效的测试成本优化方案。现有的测试数据压缩算法大多有其他领域的一些压缩算法衍生而来，而由于测试数据本身具有独特的属性，如可指定性、无序性、不均性等，因此需要根据其特性设计具有更好适应性的压缩算法才能获得更加理想的压缩效率和稳定性。本文通过充分研究测试数据的特征，提出了变长、不等间距的自适应压缩算法SAC。数学分析方法和实际电路实验分析都表明SAC算法在压缩效率和稳定性方面具有突出的优势。