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孙义和
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期刊论文
CMOS动态电路的功耗－数据相关性研究1
，-0001，（）：
摘要/描述
集成电路的工作功率与其处理数据间的相关性是“功耗分析攻击”[1]的物理基础。本文分析了CMOS电路的状态和输入数据影响电路功耗的各种机制——其中考虑了静态电流、信号变化速率等因素，给出了一个动态CMOS逻辑门瞬态电流与数据间的相关关系模型。并由它推算基本逻辑门工作电流的信息量，与仿真结果进行了对比说明。本文主要结论包括：N型动态电路具有更高的安全性；次开启电流、短路电流同样可以泄漏数据信息；电源电流还可能泄漏上次运算和前级电路所处理数据的部分信息等。
【免责声明】以下全部内容由[孙义和]上传于[2005年03月29日 23时17分33秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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