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孙义和
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期刊论文
TESTLINE：一种IEEEP1500兼容的系统芯片测试方法
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摘要/描述
本文介绍了一种用于系统芯片测试的测试方案。该测试方案包括测试外壳，测试访问结构和自定义测试控制器。对于一个指定的SoC，该测试方案采用整数线性规划的方法对测试时间作出优化。实验结果表明，对于ITC'02 测试标准电路，该测试方案是一种有效的系统芯片测试方法。
【免责声明】以下全部内容由[孙义和]上传于[2005年03月29日 23时14分44秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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