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左剑恶

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期刊论文

温度对X80管线钢钝化膜电化学性能的影响

左剑恶李金波

中国腐蚀与防护学报,2009,29(1):40~43,-0001,():

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摘要/描述

应用电化学阻抗谱(EIS)技术研究了温度对X80管线钢在模拟土壤环境中所成钝化膜电化学性能的影响,同时应用点缺陷(PDM)模型分析了温度对钝化膜电化学性能的影响。结果表明:随着成膜温度的升高,钝化膜的稳态电流增大,膜内施主密度增加,膜电阻、传递电阻及离子在膜内的扩散系数D减小,其原因在于温度升高,钝化膜内的氧空位数量增加。

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