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叶玉堂

     

  

长期从事光电集成、光电测控和激光半导体微细加工等方向的研究

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  • 姓名:叶玉堂
  • 目前身份:
  • 担任导师情况:
  • 学位:
  • 学术头衔:

    博士生导师

  • 职称:-
  • 学科领域:

    光学

  • 研究兴趣:长期从事光电集成、光电测控和激光半导体微细加工等方向的研究
个人简介

叶玉堂,电子科技大学教授,博士生导师,单片集成电路与模块国家重点实验室客座教授、该重点实验室光与微波单片集成(OMMIC)方向学术带头人,国防工业出版社《电子信息与电气学科“十一五”研究生规划教材》编审委员会委员,《光电工程》编委;北京大学物理系本科,电子科技大学研究生,国家教委选派美国Delaware大学电子工程系访问学者,师从于世界著名的光电子和集成光学专家R. G. Hunsperger,长期从事光电集成、光电测控和激光半导体微细加工等方向的研究,在美国物理学会刊物Appl. Phys. Lett.、Rev. Sci. Instrum.、美国光学学会刊物Applied Optics和《电子学报》、《物理学报》、《光学学报》、《半导体学报》、《红外与毫米波学报》、《中国激光》等国内外刊物发表论文100余篇,其中SCI收录10余篇, EI收录近60篇; 完成分别由国家自然科学基金、教育部、总装备部、电科院、省科技厅等资助的科研课题20余项; 获电子部科学技术进步奖、四川省科学技术进步奖及成都市科学技术进步奖共7项; 出版专著和教材共2部;持有、申报专利近10项,其中发明专利6项;在研课题5项;年度科研合同经费估计会超过500万。代表性成果有:
    1.2006年完成单片光电集成MSM/PHEMT光接收器,经中科院半导体所测试,响应速度5Gb/s,属国内报道的最高水平,项目负责人;
    2.TIP-Ⅰ电路故障检测仪,四川省科技厅组织鉴定,“在同类检测仪器中处于国际领先水平”,四川省、成都市科技进步奖,项目负责人;
    3. 在美国物理学会刊物Appl. Phys. Lett.和美国光学学会刊物Applied Optics发表论文,对美国麻省理工学院(MIT)林肯实验室(Lincoln Laboratory) T. F. Deutsch等人在J. Appl. Phys. 54(12), p7201提出的光分解阈值理论做出重要修正,第一作者;
    4.在美国Appl. Phys. Lett. 51(25), p2136发表的光诱导沉积金膜图样空间分辨率是贝尔实验室(AT&T Bell Laboratory) M. E. Gross等人在Appl. Phys. Lett. 47(9), p923发表的同类研究结果的四倍,第一作者;
    5.转镜式高速扫描相机同步与转速测量传感器组件,2007年1月 12日通过中国军用电子元器件质量认证委员会组织的技术鉴定;经中国工程物理研究院使用和测试,测量精度较原有设备提高一个数量级,项目负责人。
    6.作为第一作者,在美国物理学会刊物Rev. Sci. Instrum. 67(10), p3755发表论文,改日本TM-230液晶盒间隙厚度测量仪干涉条纹级次的强度识别法为彩色识别法,而且作为第一主研,在国内率先推出GM-II型液晶盒间隙厚度测量仪,不仅打破了日本在这方面对我国的“禁运”,而且超过日本TM-230的测量精度0.1m,达到0.03m,这项技术申报了发明专利,相应成果获四川省科学技术进步奖。

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