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梁华国

容错计算、数字系统设计自动化、系统芯片SoC的综合与测试、内建自测试(BIST)的高级应用、自动测试模式生成(ATPG)算法、高可靠性的工业控制计算机研究与开发，以及分布式控制系统等。

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姓名：梁华国
目前身份：
担任导师情况：
学位：
学术头衔：

博士生导师
职称：-
学科领域：

计算机科学技术
研究兴趣：容错计算、数字系统设计自动化、系统芯片SoC的综合与测试、内建自测试(BIST)的高级应用、自动测试模式生成(ATPG)算法、高可靠性的工业控制计算机研究与开发，以及分布式控制系统等。

个人简介

　梁华国，安徽合肥人，教授，博士生导师。1982年毕业于合肥工业大学计算机与信息系，获得计算机及其应用专业学士学位。随后于合肥工业大学计算机与信息系留校任教、攻读硕士，并获得计算机及其应用专业硕士学位。1998-2003年作为高级访问学者，工作在德国斯图加特大学计算机科学系，并获得斯图加特大学博士学位。目前是合肥工业大学计算机与信息学院学科带头人。先后主持并参加多项国际和国内的国家级研究与开发项目：德国国家自然科学基金（DFG）、Philips半导体公司、国家医药总局、大型国有企业分布式控制系统以及管理信息系统等。获得过省、市科技进步奖、跨世纪学科骨干称号，并且多次获得欧洲国际测试会议最佳论文奖励。目前是"Journal of Computer Science and Technology"期刊审稿人，IEEE亚洲国际测试会议程序委员会委员，中国计算机学会容错计算专业委员会委员, 全国第13届CAD/CG学术会议程序委员会委员，第三届全国测试学术会议(CTC'04) 程序委员会委员。
　　主要研究方向：容错计算、数字系统设计自动化、系统芯片SoC的综合与测试、内建自测试(BIST)的高级应用、自动测试模式生成(ATPG)算法、高可靠性的工业控制计算机研究与开发，以及分布式控制系统等。
　　出版英文专著一部，在国际著名学术会议、学术期刊和杂志，以及国内核心期刊上，发表论文40余篇，其中约20余篇论文被中国科学引文数据库、EI、ISTP和SCI等收录，并且多次获得欧洲国际测试会议最佳论文奖励。其中部分论文近些年来已被IEEE国际刊物引用数十次。目前，成功获得多项国家及省部级基金项目的资助，其中一项为国家自然科学基金重大研究项目计划。

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2009-02-12

【期刊论文】基于交替与连续长度码的有效测试数据压缩和解压

梁华国，梁华国)，蒋翠云)

计算机学报，2004，27（4）：549～554，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

提出了新一类的变-变长度压缩码，称之为交替与连续长度码。该文在测试序列中直接编码连续的“0”和“1”以及交替变化位的长度，压缩一个预先计算的测试集，无需像其它文章中受限制仅仅编码连续的“0”。这种交替与连续长度码由两部分组成，即交替和连续部分，它的解压体系结构是一个简单的有限状态机并且不需要一个分离的循环扫描移位寄存器。试验结果显示，这种编码能够有效地压缩测试数据，并且更优于Golomb和FDR码对输入数据流中的变化压缩。

测试集编码，压缩/，解压，变-变长度码

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2009-02-12

【期刊论文】逆向的PLA可测性设计

梁华国，刘杰， )，梁华国)

计算机辅助设计与图形学学报，2004，16（11）：1553～1556，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

根据PLA电路结构的规整性和独特性，提出了一种逆向思维的可测性设计方案，即通过适当的方法把输出端进行输入端化，把或阵列转变成与阵列，并采用了纵向观测技术。经过方案评估得出此方案在不降低故障检测覆盖率的情况下，既使用通用测试集，又减少测试矢量数，还大大节约了附加硬件开销。

可编程逻辑阵列，可测性设计，通用测试集，乘积线，移位寄存器，异或门串

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2009-02-12

【期刊论文】一种选择折叠计数状态转移的BIST方案

梁华国，方祥圣，，蒋翠云，欧阳一鸣，易茂祥

计算机研究与发展，2004，43（2）：343～349，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

提出了一种选择折叠计数状态转移的BIST方案，它是在基于折叠计数器的基础上，采用LFSR编码折叠计数器种子，并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成，使得产生的测试模式集与原测试集相等。既解决了测试集的压缩，又克服了不同种子所生成的测试模式之间的重叠、冗余。实验结果证明，建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率，而且能够非常有效地减少测试应用时间，平均测试应用时间仅仅是类似方案的4%。

内建自测试，折叠计数器，测试数据压缩

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2009-02-12

【期刊论文】使用双重种子压缩的混合模式自测试

梁华国，蒋翠云

计算机研究与发展，2004，41（1）：214～220，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

提出了一种基于扫描混合模式的内建自测试的新颖结构1为了减少确定测试模式的存储需求，它依赖一个双重种子压缩方案，采用编码折叠计数器种子作为一个LFSR种子，压缩确定测试立方体的个数以及它的宽度。这种建议的内建自测试结构是完全相容于标准的扫描设计，简单而具有柔性，并且多个逻辑芯核可以共享。实验结果表明，这种建议的方案比先前所公布方法需要更少的测试数据存储，并且具有相同的柔性和扫描相容性。

内建自测试，确定的内建自测试，存储与生成方案，测试数据压缩

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2009-02-12

【期刊论文】TWO-DIMENSIONAL TEST DATA COMPRESSION FOR SCAN-BASED DETERMINISTIC BIST

梁华国， Hua-Guo Liang†， Sybille Hellebrand‡， Hans-Joachim Wunderlich†

Proceedings IEEE International Test Conference, Baltimore, MD, October 30-November 1, 2001，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

In this paper a novel architecture for scan-based mixed mode BIST is presented. To reduce the storage requirements for the deterministic patterns it relies on a two-dimensional compression scheme, which combines the advantages of known vertical and horizontal compression techniques. To reduce both the number of patterns to be stored and the number of bits to be stored for each pattern, deterministic test cubes are encoded as seeds of an LFSR (horizontal compression), and the seeds are again compressed into seeds of a folding counter sequence (vertical compression). The proposed BIST architecture is fully compatible with standard scan design, simple and flexible, so that sharing between several logic cores is possible. Experimental results show that the proposed scheme requires less test data storage than previously published approaches providing the same flexibility and scan compatibility.

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2009-02-12

【期刊论文】一种基于折叠计数器重新播种的确定自测试方案

梁华国，梁华国①，聚贝勒•海伦布昂特②，汉斯-耶西姆•冯特利希③

计算机研究与发展，2001，38（8）：931～938，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

提出了一种基于扫描自测试的确定与混合模式新方案，这种方案依赖于一个新型的模式生成器，它主要配备一个可编程的约翰逊计数器，称之为折叠计数器。这种新技术首先使用一个小的线性反馈移位寄存器（LFSR），生成伪随机测试模式测试容易测试的故障，并且获得一个硬故障测试立方集；其次采用经典的输入精简技术，集合T的测试立方宽度可以被压缩；最终为了能够找出合理的小数目折叠计数器种子，来生成这个确定的测试立方集T，给出了其理论背景和实用算法。试验结果表明，这个所建议的方案与先前所公布的基于线性反馈移位寄存器和约翰逊计数器的重新播种方法相比，具有非常出色的结果。因此它提供了一种有效的、弹性的基于扫描的自测试解。

扫描自测试,，折叠计数器,，重新播种,，伪随机测试,，输入精简