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梁华国

     

  

容错计算、数字系统设计自动化、系统芯片SoC的综合与测试、内建自测试(BIST)的高级应用、自动测试模式生成(ATPG)算法、高可靠性的工业控制计算机研究与开发,以及分布式控制系统等。

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  • 张卫

    复旦大学

    从事集成电路工艺、半导体材料和器件的研究。

  • 马义德

    兰州大学

    信息传输与处理、计算机应用、数字图像处理技术、生物医学工程等

  • 张庆灵

    东北大学

    主要从事于微分代数系统的结构性质及其相关控制问题的研究。

  • 吴振强

    陕西师范大学

    网络安全与信息隐藏。

  • 刘兴钊

    电子科技大学

    BST铁电薄膜、半导体SiC外延薄膜、半导体低维结构等

  • 孙正兴

    南京大学

    多媒体计算、计算机视觉和智能人机交互等,重点研究面向普适计算的智能视觉环境及其交互技术

  • 张波

    电子科技大学

    长期从事功率半导体技术、电源管理IC及专用IC的教学、科研和人才培养。

  • 朱义胜

    大连海事大学

    通信与电路方面的教学和研究

  • 姓名:梁华国
  • 目前身份:
  • 担任导师情况:
  • 学位:
  • 学术头衔:

    博士生导师

  • 职称:-
  • 学科领域:

    计算机科学技术

  • 研究兴趣:容错计算、数字系统设计自动化、系统芯片SoC的综合与测试、内建自测试(BIST)的高级应用、自动测试模式生成(ATPG)算法、高可靠性的工业控制计算机研究与开发,以及分布式控制系统等。
个人简介

 梁华国,安徽合肥人,教授,博士生导师。1982年毕业于合肥工业大学计算机与信息系,获得计算机及其应用专业学士学位。随后于合肥工业大学计算机与信息系留校任教、攻读硕士,并获得计算机及其应用专业硕士学位。1998-2003年作为高级访问学者,工作在德国斯图加特大学计算机科学系,并获得斯图加特大学博士学位。目前是合肥工业大学计算机与信息学院学科带头人。先后主持并参加多项国际和国内的国家级研究与开发项目:德国国家自然科学基金(DFG)、Philips半导体公司、国家医药总局、大型国有企业分布式控制系统以及管理信息系统等。获得过省、市科技进步奖、跨世纪学科骨干称号,并且多次获得欧洲国际测试会议最佳论文奖励。目前是"Journal of Computer Science and Technology"期刊审稿人,IEEE亚洲国际测试会议程序委员会委员,中国计算机学会容错计算专业委员会委员, 全国第13届CAD/CG学术会议程序委员会委员,第三届全国测试学术会议(CTC'04) 程序委员会委员。
  主要研究方向:容错计算、数字系统设计自动化、系统芯片SoC的综合与测试、内建自测试(BIST)的高级应用、自动测试模式生成(ATPG)算法、高可靠性的工业控制计算机研究与开发,以及分布式控制系统等。
  出版英文专著一部,在国际著名学术会议、学术期刊和杂志,以及国内核心期刊上,发表论文40余篇,其中约20余篇论文被中国科学引文数据库、EI、ISTP和SCI等收录,并且多次获得欧洲国际测试会议最佳论文奖励。其中部分论文近些年来已被IEEE国际刊物引用数十次。目前,成功获得多项国家及省部级基金项目的资助,其中一项为国家自然科学基金重大研究项目计划。

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