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    VLSI/SoC测试方法学和可测性设计,多媒体VLSI/SoC设计技术,网络和数据安全VLSI/SoC结构。

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2005年03月29日

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2005年03月29日

【期刊论文】FSIMGEO: A TEST GENERATION METHOD FOR PATH DELAY FAULT TEST USING FAULT SIMULATION AND GENETIC OPTIMIZATION

孙义和 Sun Yihe, Member, IEEE, Wu Qifa

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摘要

暂无

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2005年03月29日

【期刊论文】本世纪初的SoC设计和测试方法学1

孙义和

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摘要

本文主要介绍在本世纪初期微系统芯片在设计方法和测试方法方面所面临的竞争和挑战,可以在哪些方面展开课题的研究。

关键词: 微系统芯片、设计方法学、测试方法学、深亚微米集成电路、电子设计自动化

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2005年03月29日

【期刊论文】VLSI系统芯片级故障模拟算法和系统SysFsim

孙义和 徐磊, 马玉海, 陈弘毅

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摘要

针对VLSI系统芯片(SoC)级设计中存在的故障模拟和故障估计问题,从系统级行为算法入手,对系统芯片级中故障进行模块划分,抽取了故障模块模型MUS,提出了系统级故障模型和算法,设计并给出了系统芯片级故障模拟系统SysFsim,该系统由系统级组合故障模拟器Hsim 和时序故障模拟器Bsim 构成。经过实验证实,提出的VLSI系统层模拟算法和系统对故障模拟所达到的故障覆盖率(η/%)、占用CPU时间(t/s)和存储量方面都较由门级所用故障模拟算法和系统有较大的改善,HSIM 和BSIM 在系统级对标准电路进行故障模拟所达故障覆盖率分别为94.3%和95.0%。在加入先期研制的PLA/ROM故障测试生成算法和环境TH_TE100,还可实现100输入和100输出的PLA或ROM的故障模拟和测试生成。

关键词: 超大规模集成电路, 微系统芯片(SoC), 故障模拟, 故障模块模型MUS, 故障模拟算法SysFsim, 测试生成

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2005年03月29日

【期刊论文】功耗平衡的延时不敏感超前进位加法器

孙义和 李翔宇

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摘要

差分功耗分析是一种针对密码芯片的攻击手段,它通过分析功耗信息提取芯片密钥。功耗平衡的实现方法可以提供抗功耗攻击的加密硬件。本文介绍了一种由功耗平衡模块组成的延时不敏感(DI)超前进位加法器,这些功耗平衡模块的工作功耗与输入数据无关。本设计的特点是在晶体管级进行功耗平衡。文中给出了功耗平衡模块和普通模块的功耗差分,对比显示电路改进后的模块更安全。

关键词: 旁道攻击,, 差分功耗攻击,, 异步电路,, 功耗平衡

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2005年03月29日

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2005年03月29日

【期刊论文】关于VLSI测试数据的自适应压缩算法(SAC)*1

孙义和 徐磊

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摘要

微系统芯片的测试,非常关键的一个问题就是测试数据量的问题。通常微系统芯片都会包含多个IP内核,而这些内核每一个都需要大量的测试向量来进行测试。这样的测试数据量不仅会超出一般商用自动测试仪器所能提供的存储空间和通道数目,而且也会大大延长测试时间。而测试仪器的成本和测试时间是直接影响测试成本的关键因素之一。因此对测试数据进行压缩成为了一种直接而有效的测试成本优化方案。现有的测试数据压缩算法大多有其他领域的一些压缩算法衍生而来,而由于测试数据本身具有独特的属性,如可指定性、无序性、不均性等,因此需要根据其特性设计具有更好适应性的压缩算法才能获得更加理想的压缩效率和稳定性。本文通过充分研究测试数据的特征,提出了变长、不等间距的自适应压缩算法SAC。数学分析方法和实际电路实验分析都表明SAC算法在压缩效率和稳定性方面具有突出的优势。

关键词: 微系统芯片、测试数据压缩、自适应压缩算法、嵌入自测试

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2005年03月29日

【期刊论文】TESTLINE:一种IEEEP1500兼容的系统芯片测试方法

孙义和 何虎

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摘要

本文介绍了一种用于系统芯片测试的测试方案。该测试方案包括测试外壳,测试访问结构和自定义测试控制器。对于一个指定的SoC,该测试方案采用整数线性规划的方法对测试时间作出优化。实验结果表明,对于ITC'02 测试标准电路,该测试方案是一种有效的系统芯片测试方法。

关键词: 系统芯片测试,, 整数线性规划,, 测试线,, IEEEP1500

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2005年03月29日

【期刊论文】面向寄存器的流水线处理器建模及验证方法1

孙义和 何虎

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摘要

本文提出了一种新的流水线处理器的功能验证方法。这种方法的主要思想是通过验证流水线处理器中所有寄存器的功能来验证处理器的功能。流水线处理器绝大部分是由同步电路组成的。同步电路的状态完全由寄存器的状态决定。因此如果能够保证每个寄存器功能正确就可以保证整个同步电路功能正确。对于流水线处理器来说,寄存器状态的变迁是由处理器的原始输入和寄存器本身状态决定的。原始输入包括控制信号如复位信号和数据输入如指令输入。如果把对每个寄存器的赋值操作转换成对控制信号和数据输入的操作,那么就可以生成一个验证序列,这个序列包括每个时钟周期控制信号和数据输入的值。有了这个序列就可以把目标设计和参考模型进行结果比较,从而验证目标设计功能是否正确。同时这种方法便于调试。

关键词: 面向寄存器,, 设计验证,, 流水线处理器,, 形式验证

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2005年03月29日

【期刊论文】集成电路芯片瞬时功耗测量-分析系统*

孙义和 李翔宇, 芦颖僖

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摘要

本文介绍了一种集成电路芯片瞬时功率测量-采集-分析系统。这是一种基于普通设备搭建的软硬件结合的测试系统。文中详细介绍了系统的测量方案,以及系统组成和各部分的功能与实现,并给出了需要注意的细节。

关键词: 集成电路测试, 瞬时功率测量

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2005年03月29日

【期刊论文】CMOS动态电路的功耗-数据相关性研究1

孙义和 李翔宇

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摘要

集成电路的工作功率与其处理数据间的相关性是“功耗分析攻击”[1]的物理基础。本文分析了CMOS电路的状态和输入数据影响电路功耗的各种机制——其中考虑了静态电流、信号变化速率等因素,给出了一个动态CMOS逻辑门瞬态电流与数据间的相关关系模型。并由它推算基本逻辑门工作电流的信息量,与仿真结果进行了对比说明。本文主要结论包括:N型动态电路具有更高的安全性;次开启电流、短路电流同样可以泄漏数据信息;电源电流还可能泄漏上次运算和前级电路所处理数据的部分信息等。

关键词: 微电子, 数据安全, 功耗分析攻击, 功耗数据相关性模型,

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2005年03月29日

【期刊论文】A New Register File Access Architecture for Software Pipelining in VLIW Processors

孙义和 Yanjun Zhang, Hu he, Yihe Sun

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2005年03月29日

【期刊论文】ASIC Design of Gabor Transform for Speech Processing1

孙义和 Pan Min, Sun Yihe

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2005年03月29日

【期刊论文】一种可配置的测试访问结构及其优化算法

孙义和 何虎

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摘要

本文介绍了一种用于系统芯片测试的测试访问结构。该结构可以在测试时间和功耗约束的情况下利用整数线性规划算法自动调整结构参数。实验结构表明这种结构可以非常灵活的生成满足不同约束要求的测试访问结构。

关键词: 系统芯片测试,, 测试访问结构,, 整数线性规划,, 测试线

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2005年03月29日

【期刊论文】基于小信号模型的测试点选择算法1

孙义和 何虎

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摘要

本文介绍了一种用于数字VLSI扫描内建自测试(Built-In Self-Test)的测试点选择算法TEPSAUS(TEst-Point Selection Algorithm Using Small signal model)。在解决控制点选择的计算复杂度问题方面,TEPSAUS 在剔除难于确定观测性增强或减弱的重会聚点后,用小信号模型的方法构造递推算式,这样可测性度量方程(Cost Reduction Function)的计算复杂度降低了。从评测结果看,TEPSAUS 可以从ISCAS89电路和ITC99的b14电路中找到全局的优化测试点,并且CPU的计算时间控制在秒量级。

关键词: 内建自测试,, 扫描测试,, 小信号模型,, 测试点插入

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2005年03月29日

【期刊论文】基于扫描的低测试功耗结构设计1

孙义和 徐磊, 陈弘毅

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摘要

在集成电路设计中,面积、功耗和可测性是三个最为重要的优化指标。测试成本正随着集成电路规模的不断增大提高,因此在设计中加入可测性设计的考虑已成为共识。基于扫描的可测性设计方法是目前应用最广泛的方法之一。加入扫描结构可以大大提高电路系统的测试性能,但同时也会给系统的面积、性能、功耗等带来一些负面影响。本文提出了一种考虑低功耗因素的可测性设计方法。计算数据显示,与传统扫描设计方法相比,这种方法在改善系统测试功耗方面具有突出的优势。

关键词: 可测性设计、扫描、低功耗,, 测试功耗,, 位通过率

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2005年03月29日

【期刊论文】Low Power Technique of Scan-based Design for Test1

孙义和 Lei Xu, Yihe Sun, and Hongyi Chen

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