【期刊论文】The temperature dependence of dc characteristics and its implication in microwave power SiSiGeSi HBTs
张万荣
【期刊论文】电子器件2006射频功率HBT热稳定性的一种新表征方法
张万荣
【期刊论文】电迁徙参数-电流密度因子电流斜坡测试法
张万荣
【期刊论文】对Fukui法测量MESFET栅极串联电阻的改进
张万荣
【期刊论文】 VLSI 金属化布线电徙动动力学温度相关性研究
张万荣
【期刊论文】GaAs MESFET可靠性及快速评价新方法的研究
张万荣
【期刊论文】Rapid evaluation degradation activation energa of n-GaAs ohmic contacts with and without TiN diffusion barrier
张万荣
【期刊论文】微波功率器件金属化布线回流加固结构
张万荣
【期刊论文】Si/SiGe/Si 双异质结晶体管异质结势垒效应(HBE)研究
张万荣
【期刊论文】栅TiA1和TiPtAu栅GaAs MESFET稳定性研究
张万荣
【期刊论文】Si/SiGe/Si HBT频率特性的解析模型与模拟
张万荣
【期刊论文】Effect of ge composition linear grading in the base on the early voltage of Si/Sil-x Gex/Si HBTs
张万荣
【期刊论文】Analytical calculation of effective densities of states,intrinsic carrier concentration and ionized doping concentration in strained Si_1-x Ge_x alloys on (001) Si substrates at room and low temperatures