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2005年03月04日

胡小唐，陈津平*，胡晓东，陈峰，郭彤

Proc. Instn Mech. Engrs Vol. 217 Part D: J. Automobilc Engincering，-0001，（）：

-1年11月30日

探讨了外界激振对扫描探针显微镜（SPM）图像的影响。针对DI扫描探针显微镜MultiMode™ SPM，以Tektronix任意波形发生器AWG2021驱动PC扬声器作为激振源，以SIOS微型激光干涉测振仪SP-S为测振系统，研究了0-7kHz频带内SPM机体的简谐迫振对扫描图像的影响。实验表明，针尖-样品副所受激振影响不同于SPM机体；0-1kHz频带内的激振影响显著，再高频段则影响甚微；外界激振与SPM扫描的综合作用影响成像的结果；针尖-样品副的粘弹性模型是SPM振动影响研究的指导理论。

外界激振，扫描探针显微镜，针尖-样品副，粘弹性模型

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2005年03月04日

【期刊论文】利用AFM动态电场在Si表面实现纳米氧化结构

胡小唐，胡晓东，郭彤

，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

纳米氧化结构是构成纳米电子器件的重要组成部份。本文主要讨论利用原子力显微镜（AFM）动态电场诱导阳极氧化作用下Si表面生成纳米氧化结构的特征，并进行相应的机理分析。实验表明，直流电压作用下的氧化结构表现出单峰特征，而电压脉冲和连续方波所得到的氧化结构具有中央凹陷特征和较高的纵横比。

原子力显微镜，电场诱导阳极氧化，纳米加工，动态电场

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2005年03月04日

【期刊论文】基于布里渊增益的单端分布式光纤传感技术

胡小唐，胡晓东

，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

本文对基于布里渊增益的分布式光纤传感技术进行了理论分析，并针对一些特殊应用领域提出了一种能够以单端方式工作的新型传感结构。光纤端面的菲涅尔反射光和信号检测的时序控制在该结构中被应用，以实现温度或应变的测量。初步的实验也表明该方案是可行的。

分布式光纤传感技术,，布里渊增益,，布里渊频移,，菲涅尔反射

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2005年03月04日

【期刊论文】全尺寸井下采油工具综合参数检测与试验系统的研究

胡小唐，傅星，胡晓东，王凤山，杨志鹏

，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

本研究是针对井下环境复杂、不便进行工艺研究、井下采油工具容易损坏、而又缺少有效的检测手段进行的。介绍了国内外在这方面的研究概况，详细地介绍了全尺寸采油工具综合参数检测与试验系统的结构、功能及主要性能指标。该系统在模拟现场工况的基础上，在室内就可以进行各种采油工具、工艺的检验与试验研究，具有全尺寸、高指标、多功能等特点，可以实现包括组合工具在内的多种采油工具的检测和包括组合参数在内的多种采油工艺参数的试验研究。该系统已成功地应用于大庆油田。

采油工具，采油工艺，全尺寸，检测，系统，模糊控制

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2005年03月04日

【期刊论文】Nanoscale oxide structures induced by dynamic electric field on Si with AFM

胡小唐， Xiaodong Hu*， Tong Guo， Xing Fu， Xiaotang Hu

Applied Surface Science 217(2003)34-38，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

Nanoscale oxide structures are very important for the study of functional nanodevices. Local oxidation induced by electric field with scanning probe microscopy is a promising method. Some oxide lines and dots on Si surface were fabricated using conductive atomic force microscope in this paper. Nanoscale oxide lines induced by dc voltages exhibit the characteristic of single peak, but the hollow structures with higher aspect ratio are observed under the effect of square wave voltages. We present the hollow structures result from the finite diffuse speed and concentration of oxygen ion, and the higher aspect ratio results from the effect of dynamic electric field in the conductor-nonconductor-semiconductor junction formed in the course of fabrication.

AFM， Oxide structure， Nanofabrication， Dynamic electric field

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