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孙义和, Sun Yihe, Member, IEEE, Wu Qifa
,-0001,():
-1年11月30日
This paper presents FSimGEO, an efficient test generation method for path delay fault test using Fault Simulation and Genetic Optimization. A parallel-vector fault simulator is introduced first, which can simulate several test vector pairs at the same time through introducing a four-valued logic and the Path Status Graph (PSG) of the circuit structure. After this, a special genetic optimization algorithm is used to direct the process of searching and to optimize test sets generated. We have given the fitness function and genetic operators that affect the optimizing efficiency of Genetic Algorithm (GA) in detail. Experiment results have showed that the number of path tested by FSimGEO is about 3.5 times by latter one.
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孙义和, 徐磊, 陈弘毅
,-0001,():
-1年11月30日
在集成电路设计中,面积、功耗和可测性是三个最为重要的优化指标。测试成本正随着集成电路规模的不断增大提高,因此在设计中加入可测性设计的考虑已成为共识。基于扫描的可测性设计方法是目前应用最广泛的方法之一。加入扫描结构可以大大提高电路系统的测试性能,但同时也会给系统的面积、性能、功耗等带来一些负面影响。本文提出了一种考虑低功耗因素的可测性设计方法。计算数据显示,与传统扫描设计方法相比,这种方法在改善系统测试功耗方面具有突出的优势。
可测性设计、扫描、低功耗,, 测试功耗,, 位通过率
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【期刊论文】Low Power Technique of Scan-based Design for Test1
孙义和, Lei Xu, Yihe Sun, and Hongyi Chen
,-0001,():
-1年11月30日
Rate of Bit Propagation (RBP) is defined to estimate power consumption. And an advanced scan tree technique is presented, which accesses the registers through multi-level scan paths to reduce RBP of scan registers. Result of comparison shows, scan tree reduces the test power observably. 5
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【期刊论文】VLSI系统芯片级故障模拟算法和系统SysFsim
孙义和, 徐磊, 马玉海, 陈弘毅
,-0001,():
-1年11月30日
针对VLSI系统芯片(SoC)级设计中存在的故障模拟和故障估计问题,从系统级行为算法入手,对系统芯片级中故障进行模块划分,抽取了故障模块模型MUS,提出了系统级故障模型和算法,设计并给出了系统芯片级故障模拟系统SysFsim,该系统由系统级组合故障模拟器Hsim 和时序故障模拟器Bsim 构成。经过实验证实,提出的VLSI系统层模拟算法和系统对故障模拟所达到的故障覆盖率(η/%)、占用CPU时间(t/s)和存储量方面都较由门级所用故障模拟算法和系统有较大的改善,HSIM 和BSIM 在系统级对标准电路进行故障模拟所达故障覆盖率分别为94.3%和95.0%。在加入先期研制的PLA/ROM故障测试生成算法和环境TH_TE100,还可实现100输入和100输出的PLA或ROM的故障模拟和测试生成。
超大规模集成电路, 微系统芯片(SoC), 故障模拟, 故障模块模型MUS, 故障模拟算法SysFsim, 测试生成
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孙义和
,-0001,():
-1年11月30日
本文主要介绍在本世纪初期微系统芯片在设计方法和测试方法方面所面临的竞争和挑战,可以在哪些方面展开课题的研究。
微系统芯片、设计方法学、测试方法学、深亚微米集成电路、电子设计自动化
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