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孙义和, 李翔宇
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-1年11月30日
集成电路的工作功率与其处理数据间的相关性是“功耗分析攻击”[1]的物理基础。本文分析了CMOS电路的状态和输入数据影响电路功耗的各种机制——其中考虑了静态电流、信号变化速率等因素,给出了一个动态CMOS逻辑门瞬态电流与数据间的相关关系模型。并由它推算基本逻辑门工作电流的信息量,与仿真结果进行了对比说明。本文主要结论包括:N型动态电路具有更高的安全性;次开启电流、短路电流同样可以泄漏数据信息;电源电流还可能泄漏上次运算和前级电路所处理数据的部分信息等。
微电子, 数据安全, 功耗分析攻击, 功耗数据相关性模型,
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孙义和, 李翔宇, 芦颖僖
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-1年11月30日
本文介绍了一种集成电路芯片瞬时功率测量-采集-分析系统。这是一种基于普通设备搭建的软硬件结合的测试系统。文中详细介绍了系统的测量方案,以及系统组成和各部分的功能与实现,并给出了需要注意的细节。
集成电路测试, 瞬时功率测量
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孙义和, 李翔宇
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-1年11月30日
差分功耗分析是一种针对密码芯片的攻击手段,它通过分析功耗信息提取芯片密钥。功耗平衡的实现方法可以提供抗功耗攻击的加密硬件。本文介绍了一种由功耗平衡模块组成的延时不敏感(DI)超前进位加法器,这些功耗平衡模块的工作功耗与输入数据无关。本设计的特点是在晶体管级进行功耗平衡。文中给出了功耗平衡模块和普通模块的功耗差分,对比显示电路改进后的模块更安全。
旁道攻击,, 差分功耗攻击,, 异步电路,, 功耗平衡
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孙义和
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-1年11月30日
本文主要介绍在本世纪初期微系统芯片在设计方法和测试方法方面所面临的竞争和挑战,可以在哪些方面展开课题的研究。
微系统芯片、设计方法学、测试方法学、深亚微米集成电路、电子设计自动化
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孙义和, 何虎
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-1年11月30日
本文介绍了一种用于系统芯片测试的测试访问结构。该结构可以在测试时间和功耗约束的情况下利用整数线性规划算法自动调整结构参数。实验结构表明这种结构可以非常灵活的生成满足不同约束要求的测试访问结构。
系统芯片测试,, 测试访问结构,, 整数线性规划,, 测试线
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