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2005年03月29日
孙义和， 何虎
，-0001，（）：
-1年11月30日
本文提出了一种新的流水线处理器的功能验证方法。这种方法的主要思想是通过验证流水线处理器中所有寄存器的功能来验证处理器的功能。流水线处理器绝大部分是由同步电路组成的。同步电路的状态完全由寄存器的状态决定。因此如果能够保证每个寄存器功能正确就可以保证整个同步电路功能正确。对于流水线处理器来说，寄存器状态的变迁是由处理器的原始输入和寄存器本身状态决定的。原始输入包括控制信号如复位信号和数据输入如指令输入。如果把对每个寄存器的赋值操作转换成对控制信号和数据输入的操作，那么就可以生成一个验证序列，这个序列包括每个时钟周期控制信号和数据输入的值。有了这个序列就可以把目标设计和参考模型进行结果比较，从而验证目标设计功能是否正确。同时这种方法便于调试。
面向寄存器,， 设计验证,， 流水线处理器,， 形式验证
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2005年03月29日
孙义和， 李翔宇， 芦颖僖
，-0001，（）：
-1年11月30日
本文介绍了一种集成电路芯片瞬时功率测量-采集-分析系统。这是一种基于普通设备搭建的软硬件结合的测试系统。文中详细介绍了系统的测量方案，以及系统组成和各部分的功能与实现，并给出了需要注意的细节。
集成电路测试， 瞬时功率测量
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2005年03月29日
孙义和
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-1年11月30日
本文主要介绍在本世纪初期微系统芯片在设计方法和测试方法方面所面临的竞争和挑战，可以在哪些方面展开课题的研究。
微系统芯片、设计方法学、测试方法学、深亚微米集成电路、电子设计自动化
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2005年03月29日
孙义和， 徐磊， 陈弘毅
，-0001，（）：
-1年11月30日
在集成电路设计中，面积、功耗和可测性是三个最为重要的优化指标。测试成本正随着集成电路规模的不断增大提高，因此在设计中加入可测性设计的考虑已成为共识。基于扫描的可测性设计方法是目前应用最广泛的方法之一。加入扫描结构可以大大提高电路系统的测试性能，但同时也会给系统的面积、性能、功耗等带来一些负面影响。本文提出了一种考虑低功耗因素的可测性设计方法。计算数据显示，与传统扫描设计方法相比，这种方法在改善系统测试功耗方面具有突出的优势。
可测性设计、扫描、低功耗,， 测试功耗,， 位通过率
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2005年03月29日
孙义和， 何虎
，-0001，（）：
-1年11月30日
本文介绍了一种用于数字VLSI扫描内建自测试（Built-In Self-Test）的测试点选择算法TEPSAUS（TEst-Point Selection Algorithm Using Small signal model）。在解决控制点选择的计算复杂度问题方面，TEPSAUS 在剔除难于确定观测性增强或减弱的重会聚点后，用小信号模型的方法构造递推算式，这样可测性度量方程（Cost Reduction Function）的计算复杂度降低了。从评测结果看，TEPSAUS 可以从ISCAS89电路和ITC99的b14电路中找到全局的优化测试点，并且CPU的计算时间控制在秒量级。
内建自测试,， 扫描测试,， 小信号模型,， 测试点插入
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