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时龙兴, 彭艺频, 凌明, 杨军
电子学报,2005,33(2):249~253,-0001,():
-1年11月30日
本文提出了一种基于关键路径和面积预测的软硬件划分方法,这种划分方法将软硬件映射和任务调度合而为一,在调度过程中同时完成软硬件的映射,充分发挥了任务调度的作用。在实验过程中,我们对比了基于模拟退火算法的软硬件划分方法(SA)和基于路径分析的软硬件划分方法(PA)。实验结果表明,我们提出的方法在成功率以及结果的优化程度上都能取得更好的效果。
软硬件划分, 任务调度, 关键路径, 面积预测, 通信综合
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时龙兴, 柯导明, 陈军宁, 孙伟锋, 吴秀龙, 柯宜京
固体电子学研究与进展,2005,25(1):020~107,-0001,():
-1年11月30日
提高LDMOS的一个关键步骤是加场极板以降低其表面击穿电压。文中分析了加场极板后的LDMOS击穿电压模式,指出了场极板的分压作用和场极板边界的影响,得到了其击穿电压的计算公式并用实验验证了公式的正确性。
横向双扩散金属氧化物半导体场效应晶体管, 场极板, 击穿电压
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【期刊论文】四类LO信号对CMOS Gilbert混频器增益影响分析
时龙兴, 唐守龙, 罗岚, 陆生礼
电路与系统学报,2005,10(2):066~070,-0001,():
-1年11月30日
本文深入研究了CMOS Gilbert混频器在四类本振信号(Local Oscillator,LO)作用下的开关模型,提出了相应情况下的混频器电压转换增益修正公式。基于0.25pm标准CMOS工艺的Gilbert混频器仿真结果表明,本文预测的电压增益理论值与仿真结果相差最大为0.08dB,对CMOS混频器的优化设计具有指导意义。
CMOS射频集成电路, 混频器, 电压转换增益
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时龙兴, 杨军, 李杰, 李锐
电路与系统学报,2004,9(1):068~072,-0001,():
-1年11月30日
本文提出了一种系统芯片(SoC)中用于降低内建自测试(Built-in Self-test,BIST)峰值功耗的调度算法。首先本文提出了基于扫描BIST的精简功耗模型,在此模型的基础上。提出了通过调整扫描周期和扫描起动时间的办法来避免过高的SoC测试峰值功耗。实验结果表明,该算法可以有效地避免BIST并行执行可能带来的过高峰值功耗。
内建自测试, 低功耗, 系统芯片
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时龙兴, 李锐, 杨军, 吴光林, 凌明
应用科学学报,2004,22(2):167~172,-0001,():
-1年11月30日
提出了对同一时钟域中寄存器的测试操作进行划分的方法来降低测试峰值功耗,并且这种划分不需要重新生成测试向量,支持划分前生成测试向量的复用。实验表明。在稍微增加测试时问的条件下,所提出的测试方法能同时降低电路的峰值功耗、平均功耗和能耗。
扫描, 峰值功耗, 可测性设计, 测试
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