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2006年12月06日

吴广明，鲁鸿雁，王珏，沈军，周斌，张勤远，邓忠生

物理学报，2001，51（1）：105～110，-0001，（）：

-1年11月30日

采用溶胶-凝胶技术，结合碱性催化和低表面张力溶剂交换以及非活性C地基团置换修饰，在常压条件下成功地制备了孔隙率为77%、折射率为112纳米多孔SiO2气凝胶薄膜采用氨和水蒸气混合气体热处理技术提高薄膜的耐磨性、附着力等力学特性使用透射电镜（TEM）、扫描电镜（SEM）分别观察了溶胶的颗粒结构和薄膜表面形貌应用傅里叶转换红外光谱仪（FTIR）研究了薄膜经表面基团修饰前后的红外吸收光谱以及后处理对薄膜红外蛐（TO2）吸收峰位置和半宽度的影响采用椭偏仪测量薄膜的厚度和折射率耐摩擦和附着力测试表明：混合气体热处理显著地增强了SiO2气凝胶薄膜纳米结构薄膜结构增强归因于混合气体热处理产生的s-01颗粒司更多的S-0-Si键连接。

气凝胶薄膜,，溶胶-凝胶技术,，纳米多孔结构

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2006年12月06日

【期刊论文】实验条件对纳米多孔SiO2薄膜结构及特性的影响*

吴广明，王珏，沈军，杨天河，张勤远，周斌，邓忠生，范滨，周东平，张风山

物理学报，2001，50（1）：175～181，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

报道了实验制备条件对纳米多孔SiO2薄膜结构、折射率、红外吸收、xPs等特性的影响，尤其是报道了一种新的快速、方便、有效实现纳米多孔SiO2薄膜折射率连续调节的方法在溶胶-凝胶基础上，采用碱、酸一步法以及碱/酸两步法和浸渍镀膜技术制备了纳米多孔SiO2薄膜使用原子力显微镜、扫描电镜、xPs、傅里叶红外光谱仪、椭偏仪等方法测量和分析了薄膜的特性实验结果给出从碱一步法、碱/酸两步法、到酸一步法形成的薄膜，SiO2颗粒变小，孔隙率降低，折射率从118连续增加到1.41；s-2。峰向高束缚能方向移动，并接近块体的值；红外吸收光学模m。的频率向低波数方向移动，揭示了s-0-s-键角的不断降低这些结果表明，碱/酸两步法能方便、有效地连续控制纳米多孔SiO2薄膜的结构；实验条件对薄膜特性的影响起因于纳米多孔结构改变引起的s-凸结构变化

溶胶-凝胶技术,， SiO2薄膜,，纳米多孔结构

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2006年12月06日

【期刊论文】溶胶-凝胶法制备sioz-TiO2纳米复合薄膜紫外光处理的研究

吴广明，马建华，沈军，王珏

无机材料，2001，16（6）：1174～1180，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

采用溶胶-凝胶技术，结合二步水解法分别在单晶硅片、石英玻璃和K9玻璃上制备SiO2-TiO2纳米复合薄膜，采用高压汞灯对其进行紫外光处理，分别用AFM、椭偏仪、FTm、uv-vis分光光度计以及xRD对凝胶膜紫外光处理前后的光学性能和结构进行研究，并与传统的热处理进行比较与分析。研究表明，紫外光处理是实现凝胶膜低温致密化的有效方法之一，其致密化的机理不同于传统的热处理，主要是通过紫外高能光子诱导复合薄膜网络结构的原子中的电子激发，导致原子化学键的断裂，进而产生结构重组而致密化。

SiO2-TiO2纳米复合薄膜，溶胶-凝胶法，紫外光处理

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2006年12月06日

【期刊论文】纳米多孔WO3薄膜的溶胶一凝胶制备与热处理

吴广明，傅亚翔，马建华，沈军

同济大学学报，2002，30（3）：370～374，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

以金属w粉为无机原料，采用溶胶一凝胶技术，结合浸渍镀膜方法，制备出纳米多孔WO2薄膜，研究了热处理对薄膜性能的影响采用原子力显微镜、红外光谱仪、可见光分光光度计、椭偏仪等仪器测量了薄膜的特性实验表明：热处理使得薄膜致密，折射率增大（从l.77增加至2.03），厚度减小，WO2颗粒增大；wo3结构发生变化。桥键W-O-W吸收逐渐减弱，且向低渡数方向移动，共角W-0-W键吸收越来越强这些变化归因于热处理导致的wq颗粒形状、团聚状态的变化以及应力键的产生。

溶胶-凝胶技术， WO3薄膜，热处理，米多孔结构

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2006年12月06日

【期刊论文】A new method to control nano-porous structure of sol-gel-derived silica films and their properties

吴广明， Guangming Wu a， *， Jue Wang a， Jun Shen a， Tianhe Yang a， Qinyuan Zhang a， Bin Zhou a， Zhongsheng Deng a， Bin Fan b， Dongping Zhou b， Fengshan Zhang b

Materials Research Bulletin 36 (2001) 2127-2139，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

To control structure of nano-porous silica films effectively, a base/acid two-step catalytic sol-gel process was investigated. The nano-porous structure and IR absorption of the thin films were characterized by means of FE-SEM, AFM, SEM, FTIR, and ellipsometry, respectively. The experimental results have shown that the base/acid two-step catalysis can adjust the refractive index of the films from 1.18 to 1.41 rapidly and continuously. With a change of the experimental conditions, the frequency shift of the v4 (TO3) peak of FTIR absorption to a lower wave number indicates a decrease in the average Si-O-Si bridging angle. A reduction of FWHM of the peak reveals a narrow distribution of the Si-O-Si bridging angle. These results suggest that influence of the experimental conditions on the FTIR absorption of the nano-porous silica films is attributed to a change of silica particle shape and state of aggregation of the particles in the films.

A.， Nanostructures， A.， Oxides， A.， Thin films， B.， Sol-gel chemistry

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