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论文编号 202404-226
论文题目 SiC基CMOS电路的工艺流程设计与仿真
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SiC基CMOS电路的工艺流程设计与仿真

首发时间:2024-04-22

王鹏 1   

王鹏(1996-,男,硕士研究生,主要研究方向:从事碳化硅半导体材料与器件研究

梁红伟 1   

梁红伟(1978-),男,教授,博导,从事宽禁带半导体探测器,氮化物半导体电力电子器件

  • 1、大连理工大学集成电路学院,大连 116000

摘要:本文详细介绍了基于SiC CMOS反相器电路的工艺流程设计与仿真过程,阐述了SiC CMOS与传统硅器件在工艺流程上的显著差异。通过使用TCAD软件对NMOS和PMOS进行设计,在TCAD仿真中引入了能带变窄、复合、迁移率和各向异性等物理模型,重点讨论了SiC器件仿真中必须的非完全电离、界面态模型,并详细分析了这些模型对器件及反相器电路仿真结果的影响,为器件的设计与优化提供了更为精确的仿真数据。

关键词: 集成电路; 碳化硅; TCAD模型; CMOS

For information in English, please click here

Process design and simulation of SiC based CMOS circuits

Wang Peng 1   

王鹏(1996-,男,硕士研究生,主要研究方向:从事碳化硅半导体材料与器件研究

Liang Hongwei 1   

梁红伟(1978-),男,教授,博导,从事宽禁带半导体探测器,氮化物半导体电力电子器件

  • 1、School of Integrated Circuit, Dalian University of Technology, Dalian 116000,

Abstract:This article provides a detailed description of the process design and simulation process of SiC CMOS inverter circuits, explaining the significant differences in process between SiC CMOS and traditional silicon devices. NMOS and PMOS are designed using TCAD software. Physical models such as band narrowing, recombination, mobility, and anisotropy are introduced in TCAD simulation. It focuses on the necessary physical models for SiC device simulation, including non-complete ionization and interface states. It also analyzes in detail the impact of these models on device and inverter circuit simulation results, providing more accurate simulation data for device design and optimization..

Keywords: IC SiC TCAD model CMOS

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王鹏,梁红伟. SiC基CMOS电路的工艺流程设计与仿真[EB/OL]. 北京:中国科技论文在线 [2024-04-22]. https://www.paper.edu.cn/releasepaper/content/202404-226.

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