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包生祥
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期刊论文
行波管用钨铼合金中高含量铼的X射线荧光光谱测定
光谱学与光谱分析，2005，25（3）：460～462，-0001，（）：
摘要/描述
根据行波管用的关键材料2钨铼合金中高含量铼测定的需求，研究了用X射线荧光（XRF）光谱法测定铼时所存在的基体效应、谱线重叠和背景干扰的影响，从理论上解释了XRF二元比例法校正曲线线性差的原因。理论和实验结果均表明:直接用ReLα分析线强度绘制的校正曲线比二元比例法可以获得更好的线性。本法具有快速准确的特点，分析结果与化学方法一致，在生产控制中应用效果显著。
【免责声明】以下全部内容由[包生祥]上传于[2009年05月20日 13时03分38秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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