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胡小唐
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期刊论文
New Scanning Mode of Scanning unneling Microscopy
2nd International Symposium on Instrumentation Science and Technology Aug. 18～22, 2002, Jinan. China，-0001，（）：
The coincidence scanning mode has been developed by analyzing feedback equations for constant-current scanning and imaging surfaces with atomic resolution with the new mode.This mode can be almost applied to the feedback control of all sorts of SPM instruments,and reduces the scanning time to 60%.
【免责声明】以下全部内容由[胡小唐]上传于[2005年03月04日 18时05分48秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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