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刘大锰
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期刊论文
笔石组成与结构的微区分析
矿物学报，1996，3（1）：53-57，-0001，（）：
采用显微傅立叶红外光谱（Micro-FT-IR）和装有液体金属离子枪的高分辨飞行时间二次离子质谱议（TOF-SIMS）首次研究了笔石的化学组成与结构。Micro-FT-IR谱图在1680～1740cm-1和1000～1320cm-1范围内吸收强度高，而1600cm-1处吸收强度低。表明笔石是由含N、O等杂质原子基团的高分子聚合物组成，且该笔石热演化程度不高；TOF-SIMS谱图表明，笔石的二次离子峰主要集中在较低质量数处，在高质量数峰强度低，且M/Z43，105，135等峰强度高，亦证实笔石的上述组成特点。研究结果表明Micro-FT-IR和TOF-SIMS技术是煤及源岩显微组分微区成分分析的有力工具。
【免责声明】以下全部内容由[刘大锰]上传于[2009年06月29日 09时47分32秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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