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彭明生
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期刊论文
矿物中硅的配位与局部结构的同步辐射K边X射线吸收光谱研究
科学通报，1997，42（21）：2325～2327，-0001，（）：
在通常的硅酸盐矿物中，硅为四面体配位[1]。但在下地幔的高温高压条件下（大于10GPa），硅主要为八面体配位 [2]。此外，八面体配位的硅也出现在某些合成硅酸盐化合物中[1]X射线晶体结构分析、红外和Raman光谱是研究硅在无机结晶物质中的配位与位置对称性的常规方法。但在过去的15年里，魔角自旋核磁共振谱已成为研究硅在硅酸盐矿物和其他无机材料中配位与局部结构的最有效方法[3]。最近也有文献报道了用硅的K边X射线吸收谱[4]和电子能量损失谱[5]研究硅的配位。本文采用了同步辐射作光源得到的硅K边x射线吸收光谱来研究硅在硅酸盐矿物和无机材料中的配位与局部结构。
【免责声明】以下全部内容由[彭明生]上传于[2005年06月23日 18时20分29秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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