Shape

ZnO based magnetic semiconductors (MSs) are prominent candidates for the spintronic devices because of their high Curie temperatures and low conductance mismatches. In this paper the spin-polarized transport in MS/nonmagnetic semiconductor (NMS) p–n junction is investigated. A model is established based on semiconductor drift–diffusion theory and continuity equation. Boundary conditions are obtained from the quasi-chemical potential (QCP) relations at the junction interface. For a ZnO based magnetic p–n junction, we calculate the distributions of carrier/spin density and spin polarization at room temperature. It is demonstrated that by choosing proper parameters, effective spin-polarized injection from ZnO based MS into ZnO can be achieved at room temperature without external spin-polarized injection (ESPI) or large bias.

提出了一个基于磁动力学方程的宏观唯象理论模型，对纳米级赝自旋阀结构的电流感应磁化翻转效应给出了明晰的物理解释：流入自由层的净自旋流和自由层内的自旋弛豫过程的共同作用，导致自由层总磁矩随时间的改变，甚至产生磁化方向的翻转。模型将“铁磁/非铁磁”界面的自旋相关散射，以及铁磁层中的自旋积累和弛豫过程，统一于宏观的磁动力学方程中。通过求解该方程的解析解，给出了赝自旋阀在电流激励下的磁化翻转条件和临界电流密度的表达式。对该效应的定性解释和数值模拟结果都和实验报道良好符合。根据模型分析了影响临界电流密度的诸因素，并指出提高器件性能的途径。

was studied as a function of reactor fast neutron radiation fluence. After neutron irradiation, the collector current Ic and the current gain β decrease, and the base current Ib increases generally for SiGe HBT. The higher the neutron irradiation fluence is, the larger Ib increases. For conventional Si BJT, Ic and Ib increase as well as β decreases much larger than SiGe HBT at the same fluence. It is shown that SiGe HBT has a larger anti-radiation threshold and better anti-radiation performance than Si BJT. The mechanism of performance changes induced by irradiation was preliminarily discussed.

研制成功了可商业化的75mm单片超高真空化学气相淀积锗硅外延设备SGE500，并生长了器件级SiGeHBT材料。研制了具有优良小电流特性的多晶发射极双台面微波功率SiGe HBT器件，其性能为：β=60@VCE/IC=9V/300μA，β=100@5V/50mA，BVCBO=22V，ft/fmax=5.4GHz/7.7GHz@10指，3V/10mA多晶发射极可进一步提供直流和射频性能的折衷,该工艺总共只有6步光刻，CMOS工艺兼容且（因多晶发射极）无需发射极外延层的生长，这些优点使其适合于商业化生产。利用60指和120指的SiGeHBT制作了微波锗硅功率放大器。60指功放在900MHz和315V/012A偏置时在1dB压缩点给出P1dB/Gp/PAE=22dBm/11dB/26.1%。120指功放900MHz工作时给出了Pout/Gp/PAE=33.3dBm （211W）/10.3dB/33.9%@11V/0.52A.