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包生祥
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期刊论文
粗大晶粒PZT陶瓷中电畴的结构
材料研究学报，2004，18（5）：506～510，-0001，（）：
摘要/描述
应用扫描力显微镜（SFM）的压电响应模式观测未经抛光处理的PZT陶瓷片的电畴结构，用纵向压电响应信号和侧向压电响应信号获得PZT陶瓷材料三维电畴结构。结果表明，将样品晶粒的徽形貌与SFM的纵向和倔向压电响应信号相结合，能准确表征粗大晶粒样品的三维电畴结构。用SFM可观测表面不经任何处理的陶瓷样品的电畴，不会引入表面应力等影响因素，能得到样品的原生畴结构。对原生辟结构的观察表明，对于受应力较大的品粒，成畴的主要原因是降低应变能，而受应力较小的晶粒成畴的主要原因是降低退极化能。
【免责声明】以下全部内容由[包生祥]上传于[2009年05月20日 13时04分07秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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