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彭喜元
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期刊论文
The Study on Boundary Scan Test in Mixed Circuit System
，-0001，（）：
On the basis of analyzing IEEE1149.1 and IEEE1149.5 standards, the current situation that chips supporting the BST and chips not supporting it co-exist in most mixed circuit systems is studied. A novel method is presented in this paper, in which Embedded Test Bus Controller (ETBC) is adopted to achieve the Boundary Scan Test (BST) of the mixed circuit system.
【免责声明】以下全部内容由[彭喜元]上传于[2005年04月29日 23时35分16秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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