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王石刚
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期刊论文
基于非线性插值的IC芯片检测算法
计算机测量与控制，2003，11（8）：627～629，-0001，（）：
摘要/描述
提出把Jensen非线性插值算法用于对IC芯片引脚的长、宽及脚间距等尺寸的计算机视觉检测中，同时结合划分子区域检测策略，能使检测精度达到子象素级，检测速度达到在线检测的要求。实验证明了这种方法的可行性。
【免责声明】以下全部内容由[王石刚]上传于[2005年01月17日 23时37分54秒]，版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点，与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立，不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考，并请自行承担全部责任。
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