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韩雷

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期刊论文

底座激振下微型叠层芯片共振频率检测

韩雷严国政

振动与冲击,2012,第31 卷第7 期,-0001,():

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摘要/描述

为测试微悬臂芯片的动态特性,建立以压电陶瓷为激振底座的测试系统。采用白噪声、稳态正弦和快速 正弦( 啁啾信号) 扫频方式激励微叠层悬臂芯片,由多普勒测振仪测试芯片动态响应。通过分析压电陶瓷阻抗变化与芯 片动态响应,获得的频率对应于压电陶瓷激振器所激励叠层芯片的一阶共振频率,可作为微结构和器件动态分析的测试 方案。

【免责声明】以下全部内容由[韩雷]上传于[2012年07月12日 11时13分22秒],版权归原创者所有。本文仅代表作者本人观点,与本网站无关。本网站对文中陈述、观点判断保持中立,不对所包含内容的准确性、可靠性或完整性提供任何明示或暗示的保证。请读者仅作参考,并请自行承担全部责任。

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