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【期刊论文】Degradation characteristics and mechanism of PMOSFETs under NBT–PBT–NBT stress
刘红侠
,-0001,():
-1年11月30日
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【期刊论文】A study on hot-carrier-induced gate oxide breakdown in partially depleted simox mosfet`s
刘红侠
,-0001,():
-1年11月30日
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【期刊论文】An efficient optimization algorithm in integrated circuit reliability design
刘红侠
,-0001,():
-1年11月30日
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