问答列表－Numerical and Experimental Characterization of Single-and Double-Gate Race-Track-Shaped Field Emitter Structures

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成果题名：Numerical and Experimental Characterization of Single-and Double-Gate Race-Track-Shaped Field Emitter Structures

作者： Baoping Wang, Johnny K. O. Sin, Senior Member, IEEE, Jun Cai, Vincent M. C. Poon, Member, IEEE, Chen Wang, Yongming Tang, and Linsu Tong

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