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2009年05月20日

包生祥，王守绪，马丽丽，赵登华，范荣奎，李键

光谱学与光谱分析，2005，25（3）：460～462，-0001，（）：

-1年11月30日

根据行波管用的关键材料2钨铼合金中高含量铼测定的需求，研究了用X射线荧光（XRF）光谱法测定铼时所存在的基体效应、谱线重叠和背景干扰的影响，从理论上解释了XRF二元比例法校正曲线线性差的原因。理论和实验结果均表明:直接用ReLα分析线强度绘制的校正曲线比二元比例法可以获得更好的线性。本法具有快速准确的特点，分析结果与化学方法一致，在生产控制中应用效果显著。

X射线荧光光谱，基体效应，钨铼合金，行波管

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2009年05月20日

【期刊论文】粗大晶粒PZT陶瓷中电畴的结构

包生祥，戴林杉，曾慧中

材料研究学报，2004，18（5）：506～510，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

应用扫描力显微镜（SFM）的压电响应模式观测未经抛光处理的PZT陶瓷片的电畴结构，用纵向压电响应信号和侧向压电响应信号获得PZT陶瓷材料三维电畴结构。结果表明，将样品晶粒的徽形貌与SFM的纵向和倔向压电响应信号相结合，能准确表征粗大晶粒样品的三维电畴结构。用SFM可观测表面不经任何处理的陶瓷样品的电畴，不会引入表面应力等影响因素，能得到样品的原生畴结构。对原生辟结构的观察表明，对于受应力较大的品粒，成畴的主要原因是降低应变能，而受应力较小的晶粒成畴的主要原因是降低退极化能。

无机非金属材料,，铁电体,，扫描力显徽镜,，电畴,， PZT陶瓷,，压电响应

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2009年05月20日

【期刊论文】X射线荧光光谱分析检出限计算公式

包生祥

光谱学与光谱分析，1992，12（4）：93～96，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

本文根据测量的统计误差理论，对名分析中不同背景和荃体校正方式下的检出限逐一进行讨论并导出了相应的计算公式所得结论可作为选择微金元素分析的背景和丛体校正方法以及拟定最佳实脸条件以获得最低检出限的理论依据。

XRFS 检出限计算公式

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2009年05月20日

【期刊论文】X-射线荧光分析散射幂函数法的原理及其应用Ⅱ非相干散射

包生祥

光谱学与光谱分析，1999，19（1）：90～92，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

本文在较宽的基体原子序数变化范围内研究了非相干散射随基体吸收系数的变化规律，发现存在一种幂函数关系，而传统散射内标法所假定的反比关系仅在较窄的轻元素范围内存在。实验证实了这种理论规律的存在。提出了用康普顿散射幂函数法校正基体吸收效应的新方法。列举了幂函数法在地质样品中锶的测定实例，证明该法在宽的基体组成范围内比传统的散射内标法适应性强。

X-射线荧光分析,，康普顿散射,，散射幂函数法,，基体校正

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2009年05月20日

【期刊论文】X-射线荧光分析散射函数法的原理及其应用Ⅲ连续背景幂函数法

包生祥，王志红，荣丽梅

光谱学与光谱分析，1999，19（2）：221～224，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

本文在宽的基体变化范围内对波长为0.081nm的连续散射X2射线进行了研究，表明质量衰减系数与连续散射强度之间不再遵守传统散射内标法所假定的反比例关系，而是呈一种幂函数关系。理论证明和实验结果一致。提出了用0.081nm处的散射强度的函数校正基体效应的方法，并用于地质样品中微量锶的测定，结果显示，在较大的基体变动范围内，本法与传统散射内标法相比准确度提高近4倍，克服了传统方法适应基体变化范围小的缺点。

X-射线荧光分析,，连续散射,，散射幂函数法,，基体校正

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