【期刊论文】Difference in electron- and gamma-irradiation effects on output characteristic of color CMOS digital image sensors

孟祥提， MENG Xiangti)， KANG Aiguo)， ZHANG Ximin)， Li Jihong)， HUANG Qiang)， LI Fengmei)， LIU Xiaoguang)， and ZHOU Hongyu)

RARE METALS. Vol 23, No.2 (2004) 165-170，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

color CMOS image sensor， electron irradiation， gamma radiation， irradiation damage， output characteristic， Si

【期刊论文】Effects of electron and gamma-ray irradiation on CMOS analog image sensors

孟祥提， Xiang-Ti Meng a， *， Ai-Guo Kang a， Ji-Hong Li a， Hai-Yun Zhang b， Shi-jie Yu b， Zheng You b

X.-T. Meng et al./Microelectronics Reliability xxx (2003) xxx-xxx，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

【期刊论文】Electron irradiation effects on DC electrical performances of SiGe HBT in a comparison with Si BJT

孟祥提， MENG Xianneti)， ZHANG Ximin)， WANG Jilin)， HUANG Wentiao)， CHEN Peiyi)， JIA Hongyong)， and TSIEN Peihsin)

RARE METALS VoL 23, NO.4, Dec 2004, p.330，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

semiconductor technology， SiGe HBT， electron irradiation， Si BJT， DC electrical performance

【期刊论文】Degradation of Black and White Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS) Digital Image Sensor by Gamma-Irradiation

孟祥提， Xiang-Ti MENG*， Ai-Guo KANG and Zheng YOU

Jpn. L Appl. Phys. VoL. 41 (2002) pL2 No.8Ba，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

CMOS image sensor,， gamma radiation,， silicon,， electron-hole pairs,， average brightness,， nonuniformity,， dark noise

【期刊论文】Identification of Defects in Neutron-transmutation-doped Si by Positrons*

孟祥提， MENG Xiang-Ti

SCIENCE IN CHINA (Series A) Vol. 37 No.10 (1994) 1263-1271，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

positron lifetime spectroscopy,， neutron radiation,， silicon