【期刊论文】Comparison of neutron irradiation effects on the electrical performances of SiGe HBT and Si BJT

孟祥提， MENG Xiangti)， WANG Ruipian)， KANG Aiguo)， WANG Jilin)， JIA Hongyong)， CHEN Peiyi)， and Peihsin Tsien)

RARE METALS Vol. 22, No.1, Mar 2003, p. 69，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

semiconductor technology， SiGe HBT， neutron irradiation， Si BJT， electrical performance

【期刊论文】Defect annealing of neutron-irradiated silicon crystals

孟祥提， MENG XIANG-TI， ZUO KAI-FEN

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE 30 (1995) 4195-4198，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

【期刊论文】Effects of hydrogen on the annealing behavior of neutron-radiation-induced defects in Si

孟祥提， Xiang-Ti Meng， A. Zecca and R.S. Brusa， W. Puff

PHYSICAL REVIEW B VOLUME 50, NUMBER 4 15 JULY 1994-Ⅱ，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

【期刊论文】Electron irradiation effects on DC electrical performances of SiGe HBT in a comparison with Si BJT

孟祥提， MENG Xianneti)， ZHANG Ximin)， WANG Jilin)， HUANG Wentiao)， CHEN Peiyi)， JIA Hongyong)， and TSIEN Peihsin)

RARE METALS VoL 23, NO.4, Dec 2004, p.330，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

semiconductor technology， SiGe HBT， electron irradiation， Si BJT， DC electrical performance

【期刊论文】Difference in electron- and gamma-irradiation effects on output characteristic of color CMOS digital image sensors

孟祥提， MENG Xiangti)， KANG Aiguo)， ZHANG Ximin)， Li Jihong)， HUANG Qiang)， LI Fengmei)， LIU Xiaoguang)， and ZHOU Hongyu)

RARE METALS. Vol 23, No.2 (2004) 165-170，-0001，（）：

-1年11月30日

摘要

color CMOS image sensor， electron irradiation， gamma radiation， irradiation damage， output characteristic， Si